Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统可满足极高的自动化要求,它们以重复精度提供工件的精密测量数据。业纳专为自动化应用环境设计了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列轴类光学测量机
德国业纳Jenoptik集团轴类件光学测量系统Opticline 系统提供多项智能自动监测功能,以便持续执行质量。此外,这些系统在质量参数的可追溯性和记录方面树立了新标准。
德国霍梅尔Hommel-Etamic W20粗糙度仪无导头型探测系统专为执行移动式粗糙度测量而设计。它不仅测量所有常见的粗糙度参数,而且评估工件表面的波度和总轮廓
在检测空间一固定点时关节臂测量机与三坐标测量机完全不同,在测头确定情况下直角坐标测量机各轴的位置X,Y,Z 对固定空间点是确定并唯一的;关节臂测量机有各种各样的方法使用各臂对测头测量一个固定空间点
业纳Jenoptik 已开发出新一代的光学测量系统,使生产过程中的质量控制更加容易。多年来,Opticline 系列测量系统在光学轴测量技术上树立了标杆
Hommel-Etamic W20 表面粗糙度测量仪测量探头会自动定位在工件表面上。机动化的探头降低功能可简化操作 - 您只需定位扫描单元,然后开始测量。在完成测量时,探臂会自动从工件抬起
关节式三坐标测量机按理论来说,可以测量任何工件的任何几何元素的任何参数。不过在实际的应用中,受技术、环境、软件、硬件等一系列的因素的影响,往往与理论存在一定的差距
三维扫描仪(3D scanner) 的主要作用是通过对物体和环境的3D扫描来获得相关的具体数据资料。它将搜集到的信息进行三维建模处理,可以得到很直观有效的三维数字模型
三坐标测量仪的关闭步骤对仪器的维护非常重要。在对工件测量完毕后,测量仪应按照正确的步骤进行关闭。只有在日常的使用过程中,我们按照正确的步骤进行关闭,才能使关节臂三坐标测量仪测量精确,使用寿命延长