Jenoptik业纳l轴类光学机OpticlineC1214参数特点

德国业纳Jenoptik集团轴类件光学测量系统Opticline 系统提供多项智能自动监测功能,以便持续执行质量。此外,这些系统在质量参数的可追溯性和记录方面树立了新标准。测量过程速度显著加快，在短的测试时间内实现精密。

业纳新推出的 Opticline 系统将灵活的测量方式与大限度的易用性相结合。
它们将质量提升到全新的水平,并针对复杂的应用提供了一种全新的方法。无论是创建测试计划还是执行复杂的测量运行,评估软件都会针对您需要完成的任何任务,为您提供可靠的支持。以高水平的重现性和精密度执行质量。

更接近生产的测量
质量工作直接在生产过程中启动。因此,业纳的 OPTICLINE 系统更坚固、更有弹性、更加精密,并且可以放置在您的生产环境中。这体现了业纳对工业测量的支持。

业纳测量仪

缩短操作路线,把费用降到低,减少返工,并减少误差来源。操作非常容易,使用寿命可能长,值得您信任。用于大限度提高生产中的可靠性

业纳JenoptikC系列的测量系统
业纳的高精密测量系统用于安全可靠地进行光学轴测量。这些系统非常适合用于制造环境,可确保达到佳的质量控制效果。这些仪器非常坚固,除了用于测量室外,还非常适合用于工业环境。这种测量以重复精度提供稳定的结果。这意味着即使在制造过程中,您也可以测试工件,确保获得高的质量。

技术数据
业纳Jenoptik在 Opticline C 系列内提供不同的型号。 因此能够以一贯的水平处理范围广泛的轴类和测量任务。这些型号的工件能力各不相同,您可以选择完全满足自己要求的测量系统。较小和较大的工件(可达 900毫米)可测量到微米级别。