X射线荧光光谱仪能分析哪些元素

X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，一种可行的、低成本的、并且是及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径，由于具有分析快速、制样简单，准确度高、对环境无污染等优点，现已广泛应用于各个领域，成为理化检验不可或缺的设备；相对于其他分析方法（如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。

1、XRF的分析特点
由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。分析生铁中3%左右的碳，标准偏差不超过0.1%；分析钼铁中60%左右的钼，误差不超过0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，误差不超过0.3%等。而对微量元素，镁的检量限，低于0.01%，峰几乎没有了；钠，低于0.05%，峰也没了，连强度都没了还怎么测？由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析，而不适合微量元素的分析。

2、应用范围
几乎任何样品都可以用荧光分析，但不是全部元素，如:铁矿石,没必要分析其中的氟、硼等，测也测不准，又如锰铁合金，压片测锰元素测不准，可以测其它元素如硅、锰、磷等还是很准的。又如萤石，你可能氟测不准，但你可以测量元素其它元素。当然以上都要进行强度校正，如果系数过大，也可以采用参考浓度校正。

3、影响XRF分析性能的因素

仪器使用方法对XRF分析性能有影响。使用仪器需遵循厂商提供的说明书，但不能生搬硬套，要具体情况具体分析，否则有些操作会对仪器产生负面的影响。例如：1个3千瓦功率的仪器，在分析条件设置时，非要对轻元素采用30KV-100mA；而对重元素非要采用60KV-50mA的条件设置，致使仪器在极限条件下工作，如果是新仪器，这样操作肯定会影响仪器的使用寿命，如果是老仪器，可能就要了仪器的老命了，其实我们就采用折中的方式就很好。

样品对对XRF分析性能也有影响。如果对样品不甚了解，请不要将未处理的样品直接采用X荧光光谱分析，否则可能对仪器造成致命的伤害。例如样品中含有挥发性酸，如盐酸、醋酸（样品夹杂测量中，样品用酸处理，挥发不干净）等，这些样品一旦进入仪器内部在抽真空时，挥发到晶体、X光管、探测器等，都会都会造成致命的伤害；如果环境酸性物质多，也同样会造成仪器的损伤。样品残留水分也同样有影响，样品未经过烘干处理，带有水分进入仪器，也会挥发，日积月累也会腐蚀仪器。

工作曲线对对XRF分析性能也有影响。一般来说轻元素对重元素的吸收是永恒的，至于增强就不一定了，所以建工作曲线时需考虑基体校正，可以使分析误差更小，如果标准样品量少，就不需要采用经验系数法进行全元素校正。