轴类件光学测量系统 Opticline C1000系列

产品描述

德国业纳Jenoptik 轴类件光学测量系统 Opticline C1000系列

1、高速
OPTICLINE 测量技术采用光电阴影成象原理全自动探测需测量的工件。由于单个测量值的测量分辨率高，所以整个工件轮廓的分析速度快，精度高。

2、高效

OPTICLINE 测量系统融入了我公司几十年来在光学非接触式轴类件测量系统领域积累的丰富经验和知识，融合了我们强大的技术实力，是高效成熟产品的典范，即适合于操作工自检，又可集成到生产线内用于百分之百的全检。

3、多样
OPTICLINE 测量系统品种繁多，为用户提供了众多的测量和分析可能。本系列产品可根据用户需求给予静态、倾斜或动态测量，并能按需集成到生产线内用于自动测量。

4、可靠
OPTICLINE 产品的性能，精度高，对周围环境的敏感度低，所以多年来为全球用户所青睐，到目前为止已有大量测量设备在全球各地安装使用。

跳动和长度测量
opticline C1000 系列可选配一个接触式探测系统而予以拓展，接触式测量系统和光学测量系统天衣无缝地融合后便可测量端面跳动和长度，再加上不同的分析可能，所以一次测量便能对质量作出评价，
为光学测量系统提供了补充和巨大柔性。

应用实例

技术参数：

Opticline	CHR302	C203	C305	C310	C314	C505	C510	C514	C805	C810	C814	C1014	C1023	C1023-75AE
C1023-75AE
直径	0.2-20	0.2-50	6-100	0.2-140	0.2-50	6-100	0.2-140	0.2-50	6-100	0.2-140	0.2-140	0.2-230	0.2-230	0.2-230
长度	250	250	300	300	250	550	550	500	850	850	800	1000	1000	1000
工件参数
直径（mm）	150	150	150	150	150	150	150	150	150	150	150	300	300	300
长度*(mm)	250	250	300	300	280	550	550	530	850	850	830	1000	1000	1000
工件重量（N）	50	50	100	100	100	150	150	200	200	200	200	400	400	750
分辨率
直径μm	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1/0.2	0.1/0.2	0.1/0.2
长度μm	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1/0.5	0.1/0.5	0.1/0.5
角度°	0.018	0.018	0.018	0.018	0.018	0.018	0.018	0.0018	0.018	0.018	0.0018	0.0018	0.0018	0.0005/0.001
测量精度	根据DIN EN ISO 10360 / VDI/VDE 2617标准允许的长度测量偏差
直径μm	(2+D[mm]/100)
长度μm	(5+L[mm]/100)
重复精度	在磨削工件表面进行25次重复测量时典型的结果分散值
详细参数请咨询：020-36859701