广州鸿华智能装备有限公司
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粗糙度和轮廓模块化测量系统Waveline W612
发布时间：2023.01.12 阅读量：1276
- 所属分类：表面粗糙度/轮廓测量系统
- 品牌：德国-业纳Jenoptik
- 型号：Waveline W612
- 发布日期：2023/01/12
Waveline产品线为客户提供广泛的表面评价方案，包括便携式，工作站式。可手动测量，也可实现全自动测量，包括粗糙度测量，轮廓测量，粗糙度轮廓一体式测量，扭纹测量，缸孔表面测量，也可以根据客户的需求提供定制方案。
Waveline 612
Waveline W612测量站配有Digiscan接触式测针，用于轮廓测量和附件。
产品亮点
- 友好的测量评价界面
- 机械系统稳定，测量可靠性高
- 灵活的调节功能，使测针轻松达到测量位置
- 快速更换适配器，可快速更换探头系统，只需简单的设置
- 同时采用模块化设计，能根据您的要求提供适合精度，并且后续可以扩展配置
测针
- 粗糙度和轮廓的接触式测针
- 高分辨率的粗糙度轮廓传感器
- 成熟并精准的测臂与测针技术
- 所有测针均配有磁吸功能，可快速更换测针
- 所有轮廓测针均配有 RFID 自动识别芯片，软件自动创建测针信息，便于测针更换与校准
- 由于创新的进给系统，测量点可自由进入
Details 细节展示
手动调整高度，以实现探头的精确定位
多样化的安装选择：可选底板，用于安装在带有T型槽的大理石上
粗糙度探头系统TKU400带有快速更换适配器，可快速更换
Software Evovis测量和评估软件
Evovis测量和评估软件为粗糙度和轮廓测量提供统一的操作界面，操作逻辑清晰并配有丰富的辅助功能，可根据需求设计独特的测量任务。
- 现代化的用户界面，只需简单培训就能安全操作
- 单独、自由地设计测试计划和协议，并自动归档
- 根据ISO 21920、ISO 4287以及其他ISO和国家标准的所有常见表面参数
