业纳Jenoptik粗糙度轮廓仪W900系列的功能特点

Jenoptik德国业纳Hommel粗糙度仪轮廓仪W900测量系统配有快速测量轴,即使遇到复杂的测量任务,也能保证快速的测量速度,因此能满足客户极高的要求。高精度的驱动箱与 Nanoscan Ⅱ传感器组合,可用于粗糙度和轮廓综合测量,测量精度优异。W900 测量系统在测量粗糙度、半径、角度和直径等方面展现的出色能力让人为之震撼。

业纳 圆度仪

Waveline W900RC配有500 mm 立柱,200 mm驱动箱行程、控制盒以及用于固定和定位工件的配件配件业纳 Jenoptik轮廓仪 W900系列的功能特点:
1.极高的测量速度
2.可进行CNC编程,适用于自动化测量方案
3.高度灵活的动态测量
4.与Nanoscan测头配合使用,具有出色的测量精度
5.带光栅尺的立柱分辨率为0.1μm,用于测量探传感器测量范围之外的垂直距离;需要带双头针尖的探头臂
6.两个探头系统连接位置,在驱动箱前部附加一个粗糙度探头系统;也适用于可选的旋转模块
7.附加的电动Y轴或 X-Y轴组合,用于顶点自动搜索搜索形貌测量和工件定位
8.可选的电机倾斜装置,用于 调整倾斜角度,并自动将测针对准工件平面
9.用于圆柱形工件在圆周方向和轴向上粗糙度测量。